Мощные волоконно-оптические усилители CW 1,5 мкм EFA-SF/EFA-PM/EFA-SM
EFA-SF/EFA-PM/EFA-SM — это линейка эрбиевых волоконных усилителей высокой выходной мощности, обеспечивающих максимальную мощность до 15 Вт (42 дБм).
Эти модели предназначены для работы с различными задающими лазерами, включая одночастотные источники с диапазоном выходной мощности от 0,1 до 1 мВт (–10 – 0 дБм) или от 1 до 50 мВт (0 – 17 дБм).
Готовые к использованию системы, в которых блок управления и источник питания интегрированы с волоконным усилителем. По запросу возможна поставка в виде OEM-модуля.
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Модели | EFA-SF, EFA-PM, EFA-SM |
| Режим работы | Непрерывный (CW), TEM₀₀ |
| Диапазон длин волн¹ | 1540 – 1570 нм |
| Одночастотная работа | Да (EFA-SF), Нет (EFA-PM, EFA-SM) |
| Входная мощность | 0.1 мВт – 1 мВт (–10 – 0 дБм) или 1 мВт – 50 мВт (0 – 17 дБм) |
| Максимальная выходная мощность | 1, 5, 10, 15 Вт |
| Диапазон регулировки выходной мощности | 10 – 100% |
| Стабильность выходной мощности² | < 1% (типично < 0.5%) |
| Качество пучка (M²) | < 1.05 (EFA-SF), < 1.1 (EFA-PM, EFA-SM) |
| Режим управления | APC / ACC |
| Поляризация | Линейная (PER > 23 дБ) — EFA-SF, Линейная (PER > 20 дБ) — EFA-PM, Без поляризации — EFA-SM |
| Оптическая изоляция | Встроенный входной и выходной изолятор |
| Оптический выход | Бронированный волоконный кабель с разъёмом FC/APC или с коллиматором |
Примечания
- Пользовательские длины волн: 1530 – 1540 нм, 1570 – 1580 нм
- В течение 1 часа при стабильной температуре основания в пределах 0.2 °C после 30 минут прогрева
Ключевые особенности
Высокая стабильность выходной мощности
Высокое качество пучка
Сверхузкая ширина полосы
Низкий уровень шума
Усиление одночастотного излучения
Усиление с сохранением поляризации
Встроенный предусилитель
Управление с компьютера
Области применения
- Атомная ловушка и охлаждение
- Квантовая оптика и вычисления
- Связь в свободном пространстве
- Оптическое зондирование
- Нелинейный источник накачки
- Когерентная связь
- Высокоточная спектроскопия и интерферометрия
- Нанотехнологии